1. Zminiaturyzowany i odłączany projekt, bardzo łatwy do przenoszenia i nauczania
2. Laserowa głowica wykrywająca i etap skanowania próbki są zintegrowane, struktura jest bardzo stabilna, a przeciwdziałanie zakłóceniom jest silne
3. Precyzyjne urządzenie do pozycjonowania sondy, regulacja wyrównania plamki laserowej jest bardzo łatwa
4. Pojedyncza oś napędza próbkę, aby automatycznie zbliżyć się do sondy pionowo, tak aby końcówka igły była skanowana prostopadle do próbki
5. Inteligentna metoda podawania igły sterowanej silnikiem automatycznej detekcji piezoelektrycznej ceramiki pod ciśnieniem chroni sondę i próbkę
6. Automatyczne pozycjonowanie optyczne, bez konieczności ustawiania ostrości, obserwacja w czasie rzeczywistym i pozycjonowanie obszaru skanowania próbki sondy
7. Metoda odporna na wstrząsy z zawieszeniem sprężynowym, prosta i praktyczna, dobra odporność na wstrząsy
8. Zintegrowany edytor użytkownika korekcji nieliniowej skanera, charakterystyka nanometrów i dokładność pomiaru lepsza niż 98%
Dane techniczne:
| Tryb pracy | tryb dotykowy, tryb stuknięcia |
| Tryb opcjonalny | Tarcie/siła poprzeczna, amplituda/faza, siła magnetyczna/elektrostatyczna |
| krzywa widma siły | Krzywa siły FZ, krzywa RMS-Z |
| Zakres skanowania XY | 20*20um, opcjonalnie 50*50um, 100*100um |
| Zakres skanowania Z | 2,5um, opcjonalnie 5um, 10um |
| Rozdzielczość skanowania | Poziomo 0,2 nm, Pionowo 0,05 nm |
| Wielkość próbki | Φ≤90mm, H≤20mm |
| Przykładowa podróż sceniczna | 15*15mm |
| Obserwacja optyczna | Obiektyw optyczny 4X/rozdzielczość 2,5um |
| Szybkość skanowania | 0,6 Hz-30 Hz |
| Kąt skanowania | 0-360° |
| Środowisko działania | System operacyjny Windows XP/7/8/10 |
| Interfejs komunikacyjny | USB2.0/3.0 |
| Amortyzująca konstrukcja | Wiosna zawieszona |
